Sigmadyne SigFit 2020 R1f 光學分析 英文版
Sigmadyne SigFit 是一套將機械分析與光學分析相結合的工程分析工具。可幫助
光學機械工程師將有限元模擬結果帶入光學分析工具中，以便在設計開發階段預測
由於機械干擾造成的光學性能下降。
SigFit 整合了 Ansys 的機械分析能力和流行的光學分析工具的光學分析能力。使
用者可以處理在 Ansys 中執行的精密光學系統的結構和熱分析模擬，從而可以預
測機械干擾對光學性能的影響。這在技術能力和進度方面都增強了設計開發過程。
可以將有限元分析得到的光學面形等結果檔案通過多項式擬合或者插值轉換為光學
工具的輸入檔案，並可實現主動控制的促動器佈局最佳化、動態響應分析、光程差
分析及應力雙折射效應、設計最佳化等，廣泛應用於光學系統設計、光儲存、雷射
光列印、雷射光通信和燈具設計等領域。
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